眾所周知，數(shù)據(jù)采集是指通過特定的測量設(shè)備和測量方法獲取零件表面離散點(diǎn)的幾何坐標(biāo)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)采集不僅是產(chǎn)品抄數(shù)設(shè)計必不可少的一個關(guān)鍵環(huán)節(jié)，同時也是進(jìn)行產(chǎn)品抄數(shù)設(shè)計的開始。那么抄數(shù)設(shè)計如何進(jìn)行數(shù)據(jù)采集呢?

 

 

　　抄數(shù)設(shè)計進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的方法：

　　1、接觸式數(shù)據(jù)采集

　　接觸式數(shù)據(jù)采集是通過物理接觸被測樣件來獲取數(shù)據(jù)的方法，主要包括使用基于力的擊發(fā)原理的觸發(fā)式數(shù)據(jù)采集和連續(xù)式掃描數(shù)據(jù)采集、磁場法、超聲波法。

　　2、非接觸式數(shù)據(jù)采集

　　非接觸式數(shù)據(jù)采集方法利用光、聲、磁等原理進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，其中光學(xué)方法細(xì)分有三角形法、測距法、干涉法、結(jié)構(gòu)光法、圖像分析法等。非接觸式數(shù)據(jù)采集速度快精度高，排除了由測量摩擦力和接觸壓力造成的測量誤差，避免了接觸式測頭與被測表面由于曲率干涉產(chǎn)生的偽劣點(diǎn)問題，獲得的密集點(diǎn)云信息量大、精度高，測頭產(chǎn)生的光斑也可以做得很小，以便探測到一般機(jī)械測頭難以測量的部位，大限度地反映被測表面的真實形狀。

　　3、斷層數(shù)據(jù)采集

　　接觸式數(shù)據(jù)采集、非接觸式數(shù)據(jù)采集這兩種方法，雖然應(yīng)用很廣，但是存在無法測量物體內(nèi)部輪廓的缺陷。因此，為了解決這一問題，一個很好的方法就是采用斷層數(shù)據(jù)采集法。目前斷層采集法分為非破壞性測量和破壞性測量兩種，非破壞性測量主要有CT測量法、MRI測量法、超聲波測量法等，這些方法可對零件表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確測量，測得的數(shù)據(jù)點(diǎn)密集、完整，并包含了所測零件的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，是一種無損測量。破壞性測量主要有層去掃描法等。